اجهزة المختبر

حیود األشعة السینیة XRD تقنیة تحلیلیة التالفیة تعطي معلومات حول البنیة البلورية, والتركیب الكیمیائي, والخواص ا لفیزيائیة للمواد والطبقات الرقیقة للمواد البلورية. تعتمد هذه التقنیات على مراقبة تبعثر شدة حزمة من األشعة السینیة الساقطة على العینة كتابع لزاوية السقوط والتبعثر, واالستقطاب, يستخدم للتعرف على التركیب البلوري لمختلف العینات الصلبة ❋ تعتمد التقنیة على التداخل البناء )في الطور( لألشعة السینیة أحادية اللون واإللكترونات في عینة بلورية أو مسحوق(عندما تصطدم حزمة من فوتونات األشعة السینیة باإللكترونات من ذرة , تخضع بعض الفوتونات لتشتت مرون )بدون نقل الطاقة و تشتت غیر مرن(نقل الطاقة)( لقانون براغ يستخدم حیود ألشعة السینیة لتحديد ما يلي: تعین حالة المادة Amorphous أو Crystalline وتعین نسبة linty Crystal دراسة التركیب البلوري للمادة . تحلیل األغشیة الرقیقة Thin Film analysis التعرف على مدى تجانس المادة أو الخلیط . تعیین حجم خلیة الوحدة